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纳米粒度电位仪
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纳米粒度电位仪

纳米粒度电位仪

    型号:SZ-100

    制造商:日本 HORIBA

    主要功能:通过颗粒的衍射或散射光的空间分布(散射谱)来分析颗粒大小的仪器,采用Furanhofer衍射及Mie散射理论,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中,即可获得准确的测试结果。

    技术指标:测量范围:0.3nm-8μm;测量精度:±2%;测量时间:约2分钟 (一般测量);固体激光器DPSS 532nm 10mW;粒径检测双角度:90°&173°。

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