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测试表征
Keithley 4200半导体参数测量仪及精密探针台
PerkinElmer Lambda 750 紫外分光光度计
光电测试系统:PR655,keithley2400,keithley2000
红外热成像测试系统 型号:PV-LIT
器件测试间
台阶轮廓仪DEKTAK XT
接触角测量仪 SL150
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